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TEM固體熱-電樣品桿是在標準樣品臺基礎上搭建兩電極反饋控溫的加熱模塊、兩電極電學模塊，在透射電鏡中實現樣品的皮米級高分辨成像。能夠在透射電鏡（TEM）內為樣品提供可加熱的氣氛環境。使得TEM能夠觀察樣品的微觀結構（例如原子結構）在氣氛環境中的演變過程，以直接揭示樣品結構與其氣固界面反應性質之間的科學關系。可有效提升科研人員科研水平，極大拓展透射電鏡TEM應用范圍。加熱模塊：精準、均勻、安全控溫，溫度精度優于0.1K，最高溫度1300℃。通過精確熱場模擬及芯片設計，實現無漂移...

TEM氣體加熱樣品桿是通過MEMS（微機電系統）微加工工藝，在透射電鏡內部搭建可視化NANO-LAB（納米實驗室）和四電極反饋控溫模塊，加熱區覆蓋整個觀測區域，升溫快、熱場穩定且均勻，實現樣品的氣氛環境皮米級高分辨成像和精準、均勻、安全控溫。設備的氣體流道采用惰性材料防腐設計，進氣采用納流體微分控制方式，可以有效防止滲漏，革命性提升原位設備安全性，保障實驗過程電鏡安全。對應電鏡原位觀察而言，可觀察范圍基本在微米級別，整體可觀察體積小于納升，因此過量氣體對實驗毫無幫助，且引入巨...

TEM固體超高溫加熱樣品桿是針對納米材料超高溫性能研究所開發的一款性價比高的原位產品，可對樣品進行超高溫加熱，并保持較高的加熱精度。TEM固體超高溫加熱樣品桿是在標準樣品桿的基礎上搭載高溫加熱模塊，能夠對納米粉體材料進行超高溫加熱，*高溫度1500℃。高溫加熱模塊拆卸和組裝方便快捷，性價比高。另外，為了方便科研人員尋找合適樣品和觀察樣品加熱過程的變化，超新芯設計了具有多個平坦的樣品承載平臺的方形彈簧加熱元件，通過該設計，可極大地提高實驗效率。樣品桿加熱模塊采用具有耐高溫且惰性...

SEM力學樣品臺是在標準樣品臺的基礎上設計力學控制模塊和控制單元。該系統采用感應微壓頭，在掃描電鏡內可直接觀察納米機械測試，不僅可以對納米材料進行機械擠壓的成像，而且同時可以獲取載荷-位移數據。在使用SEM力學樣品臺實驗時，用戶選擇Push-to-Pull模塊可實現樣品拉伸實驗，或者選擇加熱模塊可實現熱場和力場耦合實驗，加熱模塊可選搭載push-to-pull模塊的程序升溫方式（RT-1000℃，1K），或者選擇加電模塊（*大電壓±50V，電流范圍：pA~mA）...

SEM液體電化學樣品臺是通過MEMS微加工工藝，在標準的掃描電鏡樣品臺基礎上設計電路，搭建可視化NANO-LAB和電學控制模塊，配合外接法蘭可與電化學工作站連接通信。原位掃描電化學反應系統在標準樣品臺內置三電極電學模塊，可在掃描電鏡中實現液體樣品的電化學反應過程的實時動態成像。SEM液相電化學樣品臺可以同時對四個液體樣品（三個靜態和一個流體）進行觀察，每個樣品都被密封在各自的芯片內，且互不影響。芯片采用與原位透射電子顯微系統一樣的上下兩片芯片，通過鍵合內封和環氧樹脂外封與電鏡...